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日本otsukael Zeta 電位/粒徑測量系統(tǒng) ELSZneoSE 可根據(jù)應用增加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變學測量、凝膠網(wǎng)絡結構分析、粒徑多角度測量）。 使用標準流通池連續(xù)測量粒徑和 zeta 電位 可在從稀溶液到濃溶液（高達 40%）的寬濃度范圍內(nèi)測量粒徑和 zeta 電位
更新時間：2024-07-12
日本otsukael 電位/粒徑/分子量測量系統(tǒng)ELSZneo ELSZ 系列中的最高型號，除了可以測量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外，還可以測量分子重量。作為一項新功能，多角度測量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它還可以進行顆粒濃度測量、微流變學測量和凝膠網(wǎng)絡結構分析。 新型zeta電位平板電池單元具有新開發(fā)的高鹽涂層，可以在鹽水等高鹽環(huán)境下進行測量。我們還有一系列超微量細胞單元，
更新時間：2024-07-12
日本napson晶圓平面度測量系統(tǒng)FLA-200 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson非接觸式電阻計 EC-80 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson4探針法全自動測量分選機 WS-8800 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson薄層電阻的 4 探針測量儀RT70V系列 半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等） 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等） 導電薄膜相關（金屬、ITO等） 擴散樣品 硅基外延、離子注入樣品
更新時間：2024-07-12
日本technomate壓力調(diào)整閥 DPR 適用于一般制冷、水冷機組、低溫運輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等
更新時間：2024-07-12
日本technomate熱力膨脹閥 SCX 適用于一般制冷、水冷機組、低溫運輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等
更新時間：2024-07-12
日本technomate冷媒用電磁閥RPV 型 全新設計采用大幅提高視覺性的刻度板 小型,輕便 除自動復位、高壓手動復位,高低壓手動復位型等種類
更新時間：2024-07-12
日本technomate流量控制器 FQS 全新設計采用大幅提高視覺性的刻度板 小型,輕便 除自動復位、高壓手動復位,高低壓手動復位型等種類
更新時間：2024-07-12
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